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CARACTERISATION DE SYSTEMES RFID (ou METROLOGIE APPLIQUEE AUX DISPOSITIFS SANS CONTACT)

Objectif - Compétences acquises :

A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre les fondamentaux nécessaires à la métrologie appliquée aux systèmes sans contact.
• Appréhender les différentes techniques de caractérisation d’un système RFID UHF
Formation basée sur des travaux pratiques. Elle se compose de 3 ateliers tournant de 2 heures précédés par un bref rappel de cours.

Public concerné :

  •  Tout public

Durée :
  •   1 jours

Date/lieux :

  •  Nous consulter
  •  Non défini

Equipe pédagogique :

  •  Spécialiste du domaine

Approche pédagogique :

  •  Alternance de cours et de travaux pratiques

Renseignement pédagogique :

  •  PANNIER Philippe
  •  philippe.pannier@univ-amu.fr

Frais de participation individuels :

  •  1500 € HT

Renseignements et inscriptions :

  •  Inscription : Formation Professionnelle Continue d’Aix- Marseille Université
  •  Tél : +33(0) 4 42 60 43 04
  •  Fax : +33(0) 4 42 60 43 04
  •  Email : fpc-entreprises@univ-amu.fr
  •  Date limite d'inscription : 1 mois avant

Nombre de places limitées :

  •  Min/Max : 2 à 6 personnes

Prérequis :

  • Connaissance préalable en systèmes RFID (bases) ou avoir suivi la formation "Systèmes RFID (bases)"

Programme :

    • Point d’introduction aux manipulations (1h, Groupe entier) :
    - Rappels de cours
    - Présentation des manipulations

    • Mesure Oscilloscope (2h, 2 personnes) :
    - Etude des principales caractéristiques des oscilloscopes (trigger, voie d’échantillonnage, FFT)
    - Comparatif mesure avec sonde (passive et active)
    - Application aux caractéristiques de signaux NFC

    • Mesure VNA (2h, 2 personnes) :
    - Introduction au principe de fonctionnement d’un VNA
    - Méthodologie de mesure via VNA
    - Application à l’adaptation d’une antenne lecteur NFC

    • Mesure analyseur de spectre (2h, 2 personnes) :
    - Principe de fonctionnement d’un analyseur de spectre
    - Méthodologie de mesure via d’un analyseur de spectre
    - Caractérisation de dispositifs actifs

Validation :

    Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.

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