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Microscopie à Force Atomique Spécialité « Transition de phase»

Objectif - Compétences acquises :

A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre la théorie relative à la microscopie à force atomique couplée à la mesure de transition de phase (nanoTATM, Anasys Instruments)
• Utiliser le microscope AFM nanoIR (Anasys Instruments)
• Réaliser et analyser des mesures de transition de phase locale sur les matériaux polymères ou organiques à partir du microscope nanoTA

Public concerné :

  •  Tout public

Durée :
  •   1 jours

Date/lieux :

  •  Nous consulter
  •  Non défini

Equipe pédagogique :

  •  Spécialiste du domaine

Approche pédagogique :

  •  Alternance de cours et de travaux pratiques

Renseignement pédagogique :

  •  Agnus Guillaume
  •  guillaume.agnus@u-psud.fr

Frais de participation individuels :

  •  1200 € HT

Renseignements et inscriptions :

  •  Inscription : Service de Formation Continue de PARIS SUD
  •  Tél : +33(0)
  •  Fax : +33(0)
  •  Email : formation.continue@u-psud.fr
  •  Date limite d'inscription : 1 mois avant

Nombre de places limitées :

  •  Min/Max : 2 à 4 personnes

Prérequis :

  • Connaissance de l’AFM standard ou formation AFM standard déjà validée

Compétences acquises :

    • Comprendre la théorie relative à la microscopie à force atomique couplée à la mesure de transition de phase (nanoTATM, Anasys Instruments) • Utiliser le microscope AFM nanoIR (Anasys Instruments) • Réaliser et analyser des mesures de transition de phase locale sur les matériaux polymères ou organiques à partir du microscope nanoTA

Programme :

    • Matin (3h) : Théorie mesures de transition et travaux pratiques pour la calibration du microscope
    • Après-midi (4h) : Travaux pratiques : analyse des différents polymères

Validation :

    Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.

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