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Microscopie à Force Atomique Spécialité « mesure infrarouge»

Objectif - Compétences acquises :

A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre la théorie relative au fonctionnement du microscope AFM nanoIR (Anasys Instruments).
• Réaliser et analyser des spectres infrarouges avec un AFM « nanoIR ».

Public concerné :

  •  Tout public

Durée :
  •   2 jours

Date/lieux :

  •  Nous consulter
  •  Non défini

Equipe pédagogique :

  •  Spécialiste du domaine

Approche pédagogique :

  •  Alternance de cours et de travaux pratiques

Renseignement pédagogique :

  •  Agnus Guillaume
  •  guillaume.agnus@u-psud.fr

Frais de participation individuels :

  •  2000 € HT

Renseignements et inscriptions :

  •  Inscription : Service de Formation Continue de PARIS SUD
  •  Tél : +33(0)
  •  Fax : +33(0)
  •  Email : formation.continue@u-psud.fr
  •  Date limite d'inscription : 1 mois avant

Nombre de places limitées :

  •  Min/Max : 2 à 4 personnes

Prérequis :

  • Connaissance de l’AFM standard ou formation AFM standard déjà validée

Compétences acquises :

    • Comprendre la théorie relative au fonctionnement du microscope AFM nanoIR (Anasys Instruments) • Réaliser et analyser des spectres infrarouges avec un AFM « nanoIR »

Programme :

    JOUR 1
    • Matin (3h) : Théorie nanoIR
    • Après-midi (4h) : Travaux pratiques, réalisation de spectres IR sur film minces de polymères
    JOUR 2
    • Matin (3h) : Travaux pratiques : analyse et identification d’un film polymères inconnu.
    • Après-midi (4h) : Travaux pratiques : cartographie chimique à l’échelle nanométrique.

Validation :

    Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.

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