Format PDF


Microscopie à Force Atomique

Objectif - Compétences acquises :

A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre la théorie relative au fonctionnement du microscope à force atomique.
• Comprendre les aspects d’interactions physiques entre la sonde et la surface et les aspects de contrôle et asservissements électroniques du microscope.
• Utiliser le microscope à force atomique.
• Maîtriser l’imagerie en mode contact et mode oscillant sur des échantillons de différentes natures (visualisation de marches atomiques sur HOPG, étude de bactéries fixées)
• Utiliser les traitements de données standard sur les résultats obtenus

Public concerné :

  •  Tout public

Durée :
  •   2 jours

Date/lieux :

  •  Nous consulter
  •  Non défini

Equipe pédagogique :

  •  Spécialiste du domaine

Approche pédagogique :

  •  Alternance de cours et de travaux pratiques

Renseignement pédagogique :

  •  Agnus Guillaume
  •  guillaume.agnus@u-psud.fr

Frais de participation individuels :

  •  1000 € HT

Renseignements et inscriptions :

  •  Inscription : Service de Formation Continue de PARIS SUD
  •  Tél : +33(0)
  •  Fax : +33(0)
  •  Email : guillaume.agnus@u-psud.fr
  •  Date limite d'inscription : 1 mois avant

Nombre de places limitées :

  •  Min/Max : 4 à 8 personnes

Prérequis :

  • L1

Compétences acquises :

    • Comprendre la théorie relative au fonctionnement du microscope à force atomique • Comprendre les aspects d’interactions physiques entre la sonde et la surface et les aspects de contrôle et asservissements électroniques du microscope • Utiliser le microscope à force atomique • Maîtriser l’imagerie en mode contact et mode oscillant sur des échantillons de différentes natures (visualisation de marches atomiques sur HOPG, étude de bactéries fixées) • Utiliser les traitements de données standard sur les résultats obtenus

Programme :

    JOUR 1
    • Matin (3h) : Microscopie à force atomique en mode contact
    • Après-midi (4h) : Travaux pratiques et analyse des données
    JOUR 2
    • Matin (3h) : Microscopie à force atomique en mode oscillant
    • Après-midi (4h) : Travaux pratiques et analyse des données

Validation :

    Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.

logo pied de page