A l’issue de la formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre les principes de fonctionnement des microscopes à champ proche AFM
• Utiliser un AFM en mode contact et en mode dynamique
• Effectuer des mesures sur des échantillons connus dans les 2 modes
• Aborder les notions d’artéfact de mesure
• Faire une imagerie d’une surface et en extraire les principales informations (hauteur, rugosité, …)
Public concerné :
Date/lieux :
Equipe pédagogique :
Approche pédagogique :
Renseignement pédagogique :
Frais de participation individuels
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Renseignements et inscriptions
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Nombre de places limitées
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Prérequis :
Programme :
Validation :