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DE LA TESTABILITE DES CIRCUITS INTEGRES DIGITAUX AU TEST INDUSTRIEL
A l’issue de la formation le stagiaire sera capable de :
• Comprendre les concepts de modélisation et de simulation de fautes
• Interpréter les données de test venant de l’ATPG TETRAMAX
• Convertir ces données dans un format lisible par un testeur industriel
• Utiliser les outils de debug pour un vecteur de test scan
• Comparer les tests structurels et fonctionnels
Public concerné :
- Tout public
- 1 jours
Date/lieux :
- Nous consulter
- Non défini
Equipe pédagogique :
- Spécialiste du domaine
Approche pédagogique :
- Alternance de cours et de travaux pratiques
Renseignement pédagogique :
- PRADARELLI Béatrice
- Beatrice.pradarelli@cnfm.fr
Frais de participation individuels
:
- Nous consulter
Renseignements et inscriptions
:
- Inscription : Service de Formation Continue de l’Université de Montpellier
- Tél : +33(0) 6 82 92 28 27
- Fax : +33(0) 4 34 43 21 90
- Email : catherine.bellanger@umontpellier.fr
- Date limite d'inscription : 1 mois avant
Nombre de places limitées
:
- Min/Max : 4 à 8 personnes
Prérequis :
- Formation « Bases du Test industriel de Circuits Intégrés Digitaux »
Programme :
-
• Présentation du circuit sous test
• Rappel des concepts fondamentaux de testabilité
• Etude des résultats de l’analyse de testabilité provenant de l’ATPG TETRAMAX
• Conversion des données de la DFT au format testeur
• Vérification du vecteur de test scan test pattern sur testeur
• Debug de test de scan
• Comparaison des approches fonctionnelle et scan
Validation :
- Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.
