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TEST PARTIE1 : TEST DFT (CONNAISSANCE DESIGN FOR TESTABILITY)

Objectif - Compétences acquises :

A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable de :
• Maîtriser les concepts et les méthodes de prise en compte du test logique au niveau du flot de conception des circuits intégrés numériques.

Public concerné :

Durée :
  •   4 jours

Date/lieux :

  •  Nous consulter
  •  Non défini

Equipe pédagogique :

  •  Spécialiste du domaine

Approche pédagogique :

  •  Alternance de cours et de travaux pratiques

Renseignement pédagogique :

  •  PANNIER Philippe
  •  philippe.pannier@univ-amu.fr

Frais de participation individuels :

  •  1800 € HT

Renseignements et inscriptions :

  •  Inscription : Formation Professionnelle Continue d’Aix- Marseille Université
  •  Tél : +33(0) 4 42 60 43 04
  •  Fax : +33(0) 4 42 60 43 04
  •  Email : fpc-entreprises@univ-amu.fr
  •  Date limite d'inscription : 1 mois avant

Nombre de places limitées :

  •  Min/Max : 0 à 8 personnes

Prérequis :

  • Architecture des circuits numériques, flot de conception ASIC numérique et Physique du composant et conception de circuits

Programme :

    Présentation des concepts du test logique des circuits numériques:
    • introduction sur la nécessité du test de production des c.i et ses objectifs, positionnement des 
méthodes de prise en compte du test au niveau du flot de conception. 

    • définition des modèles de fautes en relation avec les défaillances des c.i numériques (défauts 
aléatoires et systématiques). 

    • présentation des méthodes logicielles d’analyse de la testabilité d’un c.i numérique. 

    • présentation des méthodes logicielles de génération des vecteurs de test (fonctions logiques et 
mémoire). 


Validation :

    Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.

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