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INITIATION A LA MICROSCOPIE EN CHAMP PROCHE AFM et STM

Objectif - Compétences acquises :

A l’issue de la formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre les principes de fonctionnement des microscopes à champ proche AFM
• Utiliser un AFM en mode contact et en mode dynamique
• Effectuer des mesures sur des échantillons connus dans les 2 modes
• Aborder les notions d’artéfact de mesure
• Faire une imagerie d’une surface et en extraire les principales informations (hauteur, rugosité, …)

Public concerné :

  •  Tout public

Durée :
  •   3 jours

Date/lieux :

  •  Nous consulter
  •  Non défini

Equipe pédagogique :

  •  Spécialiste du domaine – Enseignants chercheurs Université Lille 1 et IEMN

Approche pédagogique :

  •  Alternance de cours et de travaux pratiques

Renseignement pédagogique :

  •  HAPPY Henri
  •  henri.happy@iemn.univ-lille1.fr

Frais de participation individuels :

  •  2400 € HT

Renseignements et inscriptions :

  •  Inscription : Service de Formation Continue de Lille
  •  Tél : +33(0) 3 20 19 78 41
  •  Fax : +33(0) 3 20 19 78 92
  •  Email : henri.happy@iemn.univ-lille1.fr
  •  Date limite d'inscription : 1 mois avant

Nombre de places limitées :

  •  Min/Max : 4 à 6 personnes

Prérequis :

  • Aucun

Compétences acquises :

    • Comprendre les principes de fonctionnement des microscopes à champ proche AFM • Utiliser un AFM en mode contact et en mode dynamique • Effectuer des mesures sur des échantillons connus dans les 2 modes • Aborder les notions d’artéfact de mesure • Faire une imagerie d’une surface et en extraire les principales informations (hauteur, rugosité, …)

Programme :

    JOUR 1 – Microscopie AFM
    • Principe de la microscopie en champ proche
    • Les différents modes de fonctionnement d’un AFM
    • Description des différents éléments d’un microscope
    • Prise en main d’un AFM et premières mesures en mode contact

    JOUR 2 – Microscopie AFM
    • Mesures sous les modes contact et dynamique de motifs connus
    • Exploitation des données mesurées
    • Sensibilisation aux artéfacts de mesure
    • Analyse critique de la mesure
    • Mesure des dispositifs « inconnus »

    JOUR 3 – Microscopie STM
    • Principe de fonctionnement
    • Préparation des échantillons et des pointes
    • Caractérisation de surfaces

Validation :

    Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.

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